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超导材料薄层中YBaCu原子比值的X射线荧光光谱分析
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矿冶工程 1996年 第1期16卷 58-59页
作者: 陈和乐 何伯延 周拒非 长沙矿冶研究院
本文提供一种测定高温超导薄层中YBaCu原子比值的方法。该方法不破坏试样,可直接进行测定,方法简便、快速、经济。用元素谱线强度比值对相应的原子比值作校正曲线,大大提高了方法的精密度和准确度,结果满意。
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铁矿选矿产品中低微量钍的X射线荧光光谱分析
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光谱实验室 1996年 第4期13卷 67-69页
作者: 陈和乐 何伯延 周拒非 冶金部长沙矿冶研究院
本文介绍用粉末内标压片X射线荧光光谱法测定铁矿选矿工艺流程产品中的低微量钍,方法简便、快速、准确、经济,较之化学分析法,有它独到之处,满足了选矿研究对于分析的快速、准确的要求。本法以钼为内标元素,硼酸为低吸收粘结剂,... 详细信息
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矿石中锑锡的X射线荧光光谱分析
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矿冶工程 1986年 第1期 40-43页
作者: 陈和乐
本文介绍了一种用X射线荧光光谱准确、简便地连测矿石中的锑和锡的方法,其要点是:加入适量的固体重吸收剂和稀释剂,在保证标样和样品粒度大致一样的前提下,进行粉末压片制样,选定LiF110为分光晶体,并以22的散射线作为共用内标线进行连... 详细信息
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铌铜合金的X-荧光光谱分析——二元比例外标法
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分析试验室 1983年 第1期 11-13页
作者: 焦继岳 陈和乐 冶金工业部长沙矿冶研究所
X-荧光法测定二元合金中的铌有内标法、α系数法等。本文研究用二元比例外标法测定铌铜合金中的铌,并且利用国产DJs-110电子数字计算机与东德VRA-2型X-荧光仪联机使用的程序。经生产实践的考验,本法获得满意的结果,程序运行可靠。
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X射线荧光光谱法连续测定矿石中锡、铁、铅
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分析试验室 1983年 第3期 51-53页
作者: 陈和乐 莫善湘 冶金部长沙矿冶研究所
在X射线荧光光谱法中,控制、减小或校正基体影响是得到可靠结果的关键之一,对于基体变化比较悬殊的样品尤其如此。为准确地连续测定砂锡矿选矿产品(包括原矿、中矿、尾矿和精矿)中的锡、铁、铅,样品中加入Ba SO;重吸收剂和H;BO;稀释剂... 详细信息
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电子计算机与X-射线荧光分析仪联机自动分析重晶石选矿产品中的钡
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原子光谱分析 1981年 第3期 29-32页
作者: 陈和乐 何伯延 胡其锋 冶金部长沙矿冶研究所
用化学法测定重晶石选矿产品中的钡,不适用于快速分析。有人用能量色散X光光谱分析了铁-重晶石矿选矿产品中的钡,但误差较大。本文用国产DJS-110型电子计算机与东德制造的VRA-2型X射线荧光分析仪联机作了测钡的数据处理。试样中加入硼... 详细信息
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锡矿中锡的X荧光光谱测定——散射线作内标法
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矿冶工程 1983年 第4期 51-53页
作者: 陈和乐 莫善湘 胡其锋
采用波长等于0.577■的散射线作内标,对粉末试样加入强吸收剂Bi2O3和稀释剂H3BO3,补偿了样品中待测的高含量重元素——锡的自吸收效应和其它共存元素的基体效应,使本法适用于不同矿区的多种锡矿的测定,分析的浓度范围是0.2—63%。达到... 详细信息
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用VRA-2全自动X射线荧光分析仪测定镍矿尾矿中的镍和铜
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金属材料与冶金工程 1982年 第3期 51-54页
作者: 周拒非 何伯延 陈和乐 莫善湘 冶金工业部长沙矿冶研究所
一、前言我们曾用粉末压片的方法测定镍矿尾矿中的镍和铜,对铜取得了满意的结果。但由于镍矿难于磨细,颗粒度效应和均匀性影响使镍的分析结果不够理想。本文采用溶液法,消除了上述影响,同时也基本上消除了试样的基体效应。在选矿流程控... 详细信息
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锡石细泥中锡的X荧光光谱分析—粉末内标法
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矿冶工程 1982年 第2期 49-51页
作者: 陈和乐 何伯延 周拒非 莫善湘 杨森
本文介绍X射线荧光光谱粉末内标法测定锡石细泥中的锡,以锑为内标元素、以硼酸为稀释剂。长期的实践证明,本法能测定以铁硅铝等元素为土要基体的不同矿区的锡石细泥中的锡,方法简便、快速、经济、数据准确,满足了选矿工艺的要求。
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铅锌矿及其选矿产品中铅锌的X射线荧光测定
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冶金分析 1982年 第4期 30-32页
作者: 莫善湘 周拒非 陈和乐 何伯延 胡其锋 冶金部长沙矿冶研究所
铅锌矿及其选矿产品,包括原矿、铅精矿、锌精矿、铅、锌中矿及尾矿各种不同类型矿样,其含量变化范围广,基体成份变化大.用粉末法,很难消除基体效应和粒度影响;用溶液法,则因溶液本底强度高及大倍数稀释,又难以测定低含量的铅锌.本文用... 详细信息
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