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语言

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检索条件"作者=杜寰"
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Design and Fabrication of a High-Voltage nMOS Device
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Journal of Semiconductors 2005年 第8期26卷 1489-1494页
作者: 李桦 宋李梅 杜寰 韩郑生 中国科学院微电子研究所 北京100029
High-voltage nMOS devices are fabricated successfully and the key technology parameters of the process are optimized by TCAD software. Experiment results show that the device's breakdown voltage is 114V, the threshol... 详细信息
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耐熔金属约瑟夫逊隧道结制备中Nb/AlOx-Al/Nb结构质量的检验
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低温物理学报 1996年 第6期18卷 411-419页
作者: 陈赓华,韩智毅,杜寰,徐凤枝,杨乾声 中科院物理所
在耐熔金属约瑟夫逊结制备过程中,我们应用各种分析技术对Nb/AlOx-Al/Nb基本结构的质量作了检验;基于这些分析,从实验上确定了用直流磁控溅射制备该结构时的最佳参数.
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具有加长LDD结构的高压CMOS器件(英文)
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功能材料与器件学报 2007年 第3期13卷 246-252页
作者: 王晓慧 杜寰 韩郑生 中国科学院微电子研究所 北京100029
基于中国科学院微电子研究所的0.8μm标准N阱CMOS工艺以及ISETCAD软件,模拟了具有加长LDD结构的高压CMOS器件。器件的击穿电压可以达到30V以上。加长的LDD结构是通过非自对准的源漏注入实现的。LDD区域的长度和该区域的掺杂浓度对器件... 详细信息
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1OOV高压pMOS器件研制
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Journal of Semiconductors 2006年 第Z1期27卷 275-278页
作者: 宋李梅 李桦 杜寰 夏洋 韩郑生 中国科学院微电子研究所 北京100029 中国科学院微电子研究所北京100029 中国科学院微电子研究所北京100029 中国科学院微电子研究所北京100029 中国科学院微电子研究所北京100029
研制出适用于100V高压集成电路的厚栅氧高压pMOS器件.在器件设计过程中利用TCAD软件对器件结构及性能进行了模拟和优化,开发出与0.8μm n阱标准CMOS工艺兼容的高压工艺流程,并试制成功.实验结果表明,该器件关态击穿电压为-158V,栅压-100... 详细信息
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场序彩色硅基液晶微显示驱动电路设计(英文)
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半导体技术 2013年 第4期38卷 248-253,267页
作者: 赵博华 黄苒 马飞 杜寰 罗家俊 韩郑生 林斌 中国科学院微电子研究所 北京100029 浙江大学光电信息工程学系 杭州310007
基于0.35μm二层多晶硅四层金属(2P4M)3.3 V/5 V双电源电压CMOS混合信号工艺,设计了能应用到投影显示的一种分辨率为800×600硅基液晶(LCoS)微显示驱动电路芯片。整个驱动电路采用奇偶列的驱动方案,并且每一列都集成了一个数字模拟转换... 详细信息
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场发射平板显示高低压电平转换电路
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发光学报 2006年 第5期27卷 822-826页
作者: 宋李梅 李桦 杜寰 夏洋 中国科学院微电子研究所 北京100029
提出适用于场发射高压驱动的高低压电平转换电路设计及性能分析。通过模拟,此电路可以在100V的驱动工作电压以及10mA的驱动电流条件下安全工作,最高工作频率可达20MHz。在50pF输出负载下上升时间和下降时间分别为14,25ns。同时分析了高... 详细信息
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应用于硅基OLED微显示器的分段可调伽马校正
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液晶与显示 2020年 第8期35卷 825-830页
作者: 黄振兴 黄苒 赵博华 苏畅 杜寰 中国科学院微电子研究所 北京100029 中国科学院大学 北京101408
由于人类视觉系统感知的亮度与显示器实际显示的亮度为非线性关系,需要对显示器的视频数据进行伽马校正,使显示亮度适应人眼的感知需求。本文提出一种针对硅基OLED微型显示器的伽马校正方法。首先,基于人眼视觉的伽马特性,分析伽马校正... 详细信息
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恩施自治州城镇化发展现状及对策探究
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知识经济 2016年 第24期 37-37,40页
作者: 杜寰 湖北民族学院 445000
本文以恩施自治州为例,通过对恩施自治州城镇化发展的深入调查,分析了恩施自治州城镇化发展现状以及加快城镇化发展的必要性,提出了加快恩施自治州城镇化的对策建议,以求促进恩施自治州城镇化的健康快速可持续发展。
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LDMOS器件静电放电失效原理及防护方法
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半导体技术 2009年 第10期34卷 968-973页
作者: 陈蕾 宋李梅 刘梦新 杜寰 中国科学院微电子研究所 北京100029
探讨了LDMOS器件在静电放电脉冲作用下的失效现象和机理,阐述了LDMOS器件受到静电放电脉冲冲击后出现的软击穿现象,和由于寄生npn管导通产生的大电流引起器件局部温度过高,导致金属接触孔熔融的器件二次击穿现象。分析对比了不同栅宽、... 详细信息
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全铌隧道结的工艺以及dcSQUID研究
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低温工程 1999年 第4期 305-309页
作者: 杨乾声 陈赓华 杜寰 赵士平 徐凤枝 中国科学院物理研究所 北京100080
用磁控溅射方法及选择铌阳极氧化和选择铌刻蚀工艺制备了 Nb/ Al Al Ox/ Nb 全铌隧道结, 给出了工艺要点。根据全铌结的参量, 设计了全铌隧道结dc S Q U I D。制成的dc S Q U I D的传输函数δ V/δ~... 详细信息
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