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针对串扰引起的时延故障的测试产生

计算机辅助设计与图形学学报 2004年第10期16卷 1448-1453页

作者：张月李华伟宫云战李晓维装甲兵工程学院信息工程系北京100072 中国科学院计算技术研究所信息网络研究室北京100080

串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障因此 ,超深亚微米工艺下 ,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间 ,因此容易因为串扰问题产生时延故障针对这类故障给出了一个... 详细信息

串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障因此 ,超深亚微米工艺下 ,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间 ,因此容易因为串扰问题产生时延故障针对这类故障给出了一个考虑较长通路上串扰现象的时延故障测试产生算法 ,该算法采用了波形敏化技术实验结果表明。

关键词：串扰时延故障自动测试向量产生波形敏化

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应用向量划分的低功耗确定性BIST方法

计算机辅助设计与图形学学报 2005年第12期17卷 2690-2695页

作者：李吉韩银和李晓维中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室

提出一种能够与LFSR重播种技术结合的确定性向量生成方法,该方法利用扫描向量中的切片重叠来同时减少确定位数目和跳变数目,可大大降低测试功耗和测试存储.在硬件结构中,用一个译码器来生成控制信号.实验结果表明,对于ISCAS89基准电路,... 详细信息

提出一种能够与LFSR重播种技术结合的确定性向量生成方法,该方法利用扫描向量中的切片重叠来同时减少确定位数目和跳变数目,可大大降低测试功耗和测试存储.在硬件结构中,用一个译码器来生成控制信号.实验结果表明,对于ISCAS89基准电路,采用文中方法能够减少80%左右的跳变,而只需要原始Mintest测试集25%左右的测试数据存储.

关键词：确定性BIST LFSR重播种低功耗测试向量划分

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SOC可测试性设计与测试技术

计算机研究与发展 2005年第1期42卷 153-162页

作者：胡瑜韩银和李晓维中国科学院计算技术研究所信息网络室中国科学院研究生院北京 100039

超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性... 详细信息

超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩／解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向.

关键词：芯片系统可测试性设计测试资源划分测试资源优化

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动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法

计算机辅助设计与图形学学报 2010年第11期22卷 2013-2020页

作者：刘军韩银和李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所北京100190 合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009 中国科学院研究生院北京100049

为减少测试数据存储容量,提出一种动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法.使用3个扫描切片作为参考切片,若扫描切片与参考切片相容时,仅需2位或4位就可编码这个扫描切片,否则这个扫描切片将替换一个参考切片;当扫描切片与多个参考切... 详细信息

为减少测试数据存储容量,提出一种动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法.使用3个扫描切片作为参考切片,若扫描切片与参考切片相容时,仅需2位或4位就可编码这个扫描切片,否则这个扫描切片将替换一个参考切片;当扫描切片与多个参考切片相容时,提出了有选择的相容合并策略,以进一步提高压缩率.实验结果表明,与同类方法相比,文中方法具有更高的测试压缩率.

关键词：测试数据压缩扫描切片参考切片压缩率相容

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扫描链故障确定性诊断向量生成算法

计算机辅助设计与图形学学报 2009年第1期21卷 6-12页

作者：王飞胡瑜李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,是提高测试质量的有效手段.但由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,因此扫描链故障导致的失效可能会达到失效总数的50%.提出一种扫描链故障确定性诊断向量生成算法:首... 详细信息

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,是提高测试质量的有效手段.但由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,因此扫描链故障导致的失效可能会达到失效总数的50%.提出一种扫描链故障确定性诊断向量生成算法:首先建立了诊断扫描链故障的电路模型,利用该模型可以采用现有固定型故障测试生成工具产生扫描链诊断向量;然后提出一种故障响应分析方法,以有效地降低候选故障对的数量,从而在保障诊断质量的前提下减少诊断向量数目,缩短了诊断过程的时间.实验结果表明,在测试诊断精确度、故障分辨率和向量生成时间方面,该算法均优于已有的扫描链诊断向量生成方法.

关键词：大规模集成电路测试扫描链故障诊断向量生成

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数据流相关软件故障的静态检测

计算机辅助设计与图形学学报 2005年第11期17卷 2477-2483页

作者：张广梅李晓维中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室

建立了数据流相关的软件故障模型,对应用程序中由于变量的定值与引用操作及动态内存访问过程中导致故障发生的情况进行了分析.该类故障的检测需要数据流分析的支持.基于程序控制结构的精确数据流分析方法,充分考虑了不同程序路径上变量... 详细信息

建立了数据流相关的软件故障模型,对应用程序中由于变量的定值与引用操作及动态内存访问过程中导致故障发生的情况进行了分析.该类故障的检测需要数据流分析的支持.基于程序控制结构的精确数据流分析方法,充分考虑了不同程序路径上变量的定值情况,在静态分析过程中模拟了动态执行过程中到达各引用点的定值信息.根据引用-定值链建立的故障诊断规则,为有效地进行故障检测提供了依据.

关键词：数据流相关的软件故障数据流分析引用-定值链故障检测

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组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法

计算机研究与发展 2011年第3期48卷 535-544页

作者：雷韶华韩银和李晓维中国科学院计算技术研究所计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院研究生院北京100190

基于频域的软错误率分析方法可实现快速而精确地分析组合逻辑中软错误的电气屏蔽特性和窗闩屏蔽特性.该方法利用信号和逻辑门的频域特性,计算瞬时错误信号在组合逻辑电路中传播过程.基于频域的分析方法主要分为2个处理步骤:线性系统处... 详细信息

基于频域的软错误率分析方法可实现快速而精确地分析组合逻辑中软错误的电气屏蔽特性和窗闩屏蔽特性.该方法利用信号和逻辑门的频域特性,计算瞬时错误信号在组合逻辑电路中传播过程.基于频域的分析方法主要分为2个处理步骤:线性系统处理和非线性系统处理.线性系统处理通过电路系统的频率响应来计算输出信号.非线性系统处理瞬时信号的幅度过高而导致晶体管工作在不同的线性系统的情况.基于频域的分析方法采用电路系统的输入输出特性来计算非线性系统的输出信号.数据拟合的方法可以求解粒子击中而导致的瞬时错误信号的信号宽度和通路输出信号的信号宽度之间的函数关系.二者结合可计算由粒子撞击而导致错误信号的概率.使用反相器链的实验结果表明,相对于HSPICE仿真,基于频域的软错误率分析方法是高效的,且可以取得平均96.96%的精确度.使用ISCAS85基准电路和乘法器阵列的实验结果表明,基于频域的软错误率分析方法取得95.82%的精确度.

关键词：软错误率电气屏蔽特性窗闩屏蔽特性逻辑屏蔽特性重汇聚

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基于遗传算法的最大开启电流估计

计算机学报 2004年第2期27卷 186-191页

作者：徐勇军韩银和骆祖莹李晓维中国科学院计算技术研究所信息网络室清华大学计算机科学与技术系北京100084

集成电路设计进入深亚微米阶段后 ,静态功耗成为低功耗设计中的一个瓶颈 .电源门控法可以同时有效地降低动态功耗和静态功耗 ,是一项具有广阔应用前景的技术 .电源门控电路的最大电流是由最大开启电流和最大的正常运行电流决定 ,它是电... 详细信息

集成电路设计进入深亚微米阶段后 ,静态功耗成为低功耗设计中的一个瓶颈 .电源门控法可以同时有效地降低动态功耗和静态功耗 ,是一项具有广阔应用前景的技术 .电源门控电路的最大电流是由最大开启电流和最大的正常运行电流决定 ,它是电路设计的一个十分重要的参数 ,如何对它进行快速准确的估计已经成为一个新的问题 .另外 ,冒险功耗是电路整体功耗中非常重要的组成部分 ,该文通过研究发现 ,在电路开启阶段同样存在冒险 ,同时消耗了大量的能量 .文章考虑了组合电路的冒险现象 ,提出了一种基于遗传算法的最大开启电流的估计方法 ,对ISCAS85电路的实验结果表明 ,电源门控电路的开启最大功耗可能比正常情况下的最大功耗还要大 .该文的方法具有较小的复杂性 ,可以仅用随机模拟的 2 .77%的时间 ,获得 12 .90

关键词：遗传算法电路设计集成电路静态功耗电源门控法最大开启电流

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基于体系结构的软件可靠性参数早期预测

计算机工程 2005年第5期31卷 90-92,196页

作者：张广梅李晓维中国科学院计算技术研究所

在对组成软件系统的组件间关系进行分析的基础上,提出了基于组件间关系的软件可靠性的数学模型,该模型给出了在已知组件的可靠性和平均无故障运行时间的基础上计算系统可靠性的方法。通过各组件对系统可靠性的影响分析,给出了改善系统... 详细信息

在对组成软件系统的组件间关系进行分析的基础上,提出了基于组件间关系的软件可靠性的数学模型,该模型给出了在已知组件的可靠性和平均无故障运行时间的基础上计算系统可靠性的方法。通过各组件对系统可靠性的影响分析,给出了改善系统可靠性的方案。

关键词：软件体系结构软件可靠性平均无故障运行时间软件组件