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基于增量可满足性的等价性检验方法

计算机学报 2004年第10期27卷 1388-1394页

作者：李光辉李晓维浙江林学院信息工程学院杭州311300 中国科学院计算技术研究所

组合验证是数字集成电路形式化设计验证的重要方面 .该文提出了一种基于增量布尔可满足性的组合等价性检验方法 ,通过合理选择候选等价结点和增量可满足性算法来提高算法性能 ,并通过对内部等价结点的置换及将等价关系转化为相应的合取... 详细信息

组合验证是数字集成电路形式化设计验证的重要方面 .该文提出了一种基于增量布尔可满足性的组合等价性检验方法 ,通过合理选择候选等价结点和增量可满足性算法来提高算法性能 ,并通过对内部等价结点的置换及将等价关系转化为相应的合取范式公式 ,避免了误判的发生 ,又能缩小验证程序的搜索空间 .针对ISCAS’85电路的实验结果表明 ,该文提出的方法比以往同类方法更快、更强健 .

关键词：增量可满足性等价性检验组合电路形式验证数字集成电路等价结点

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测试数据压缩和测试功耗协同优化技术

计算机辅助设计与图形学学报 2005年第6期17卷 1307-1311页

作者：韩银和李晓维中国科学院计算技术研究所信息网络室

提出一种新的压缩编码———VariableTail对测试数据进行压缩.建立了两个优化模型,并提出了一种测试向量排序和不确定位定值算法.利用该算法不仅能提高测试压缩率,而且能降低测试时待测电路上损耗的功耗.理论分析和ISCAS85,ISCAS89电路... 详细信息

提出一种新的压缩编码———VariableTail对测试数据进行压缩.建立了两个优化模型,并提出了一种测试向量排序和不确定位定值算法.利用该算法不仅能提高测试压缩率,而且能降低测试时待测电路上损耗的功耗.理论分析和ISCAS85,ISCAS89电路的实验结果验证了文中编码和算法的有效性.

关键词：测试数据压缩测试功耗 Golomb编码海明距离

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一个适于形式验证的ATPG引擎

计算机研究与发展 2004年第5期41卷 886-893页

作者：李光辉邵明李晓维中国科学院计算技术研究所

自动测试产生 (ATPG)不仅应用于芯片测试向量生成 ,也是芯片设计验证的重要引擎之一提出了一种组合电路测试产生的代数方法 ,既可作为组合验证的ATPG引擎 ,又可用于通常的测试产生该算法充分发挥了二叉判决图(BDD)及布尔可满足性 (S... 详细信息

自动测试产生 (ATPG)不仅应用于芯片测试向量生成 ,也是芯片设计验证的重要引擎之一提出了一种组合电路测试产生的代数方法 ,既可作为组合验证的ATPG引擎 ,又可用于通常的测试产生该算法充分发挥了二叉判决图(BDD)及布尔可满足性 (SAT)的优势 ,通过启发式策略实现SAT算法与BDD算法的交替 ,防止因构造BDD可能导致的内存爆炸 ,而且使用增量的可满足性算法 ,进一步提高了算法的效率

关键词：组合电路测试产生形式验证二叉判决图布尔可满足性

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CMOS电路最大功耗宏模型

计算机辅助设计与图形学学报 2003年第9期15卷 1118-1121页

作者：骆祖莹李晓维杨士元清华大学计算机科学与技术系北京100084 中国科学院计算技术研究所信息网络研究室北京100080 清华大学自动化系北京100084

参照已有的平均功耗宏模型研究成果 ,将电路最大功耗假设为输入向量对序列长度与跳变率的函数 ,并采用神经元网络拟合出该函数 ISCAS85电路集的实验结果表明 ,最大功耗宏模型的计算结果与门级电路最大功耗的实际模拟结果之间的误差可以... 详细信息

参照已有的平均功耗宏模型研究成果 ,将电路最大功耗假设为输入向量对序列长度与跳变率的函数 ,并采用神经元网络拟合出该函数 ISCAS85电路集的实验结果表明 ,最大功耗宏模型的计算结果与门级电路最大功耗的实际模拟结果之间的误差可以控制在 10

关键词： CMOS电路最大功耗宏模型集成电路低功耗设计

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电路宽度制导的布尔推理

计算机辅助设计与图形学学报 2004年第11期16卷 1568-1574页

作者：李光辉邵明李晓维浙江林学院信息工程学院杭州311300 中国科学院计算技术研究所信息网络研究室

在基于逻辑电路的布尔推理过程中 ,经常用到二叉判决图 (BDD)与布尔可满足性 (SAT)相结合的算法由于电路宽度能很好地反映电路的复杂性 ,提出了一种基于电路宽度的启发式策略 ,根据电路宽度来实现SAT算法与BDD算法的交替充分发挥两... 详细信息

在基于逻辑电路的布尔推理过程中 ,经常用到二叉判决图 (BDD)与布尔可满足性 (SAT)相结合的算法由于电路宽度能很好地反映电路的复杂性 ,提出了一种基于电路宽度的启发式策略 ,根据电路宽度来实现SAT算法与BDD算法的交替充分发挥两者的优势 ,不仅可以防止因构造BDD可能导致的内存爆炸 ,而且还能避免SAT算法可能遇到的超时现象与以往同类策略相比 ,该启发式策略更节省计算资源 ,提高算法性能针对组合电路的测试产生实验。

关键词：电路宽度布尔推理二叉判决图布尔可满足性测试产生

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非确定性仲裁型物理不可克隆函数设计

计算机辅助设计与图形学学报 2017年第1期29卷 166-171页

作者：叶靖胡瑜李晓维中国科学院计算技术研究所计算机体系结构国家重点实验室北京100190

物理不可克隆函数(physical unclonable function,PUF)在信息安全领域的应用日益广泛.然而,仲裁型PUF作为一种典型的强PUF,因逻辑确定而易被建模攻击破解;弱PUF虽然对建模攻击免疫,但无法提供较多激励响应对.为解决此问题,提出了一种非... 详细信息

物理不可克隆函数(physical unclonable function,PUF)在信息安全领域的应用日益广泛.然而,仲裁型PUF作为一种典型的强PUF,因逻辑确定而易被建模攻击破解;弱PUF虽然对建模攻击免疫,但无法提供较多激励响应对.为解决此问题,提出了一种非确定性仲裁型PUF,通过结合仲裁型PUF和弱PUF,使非确定性仲裁型PUF的部分布尔逻辑关系取决于弱PUF的不确定性输出,以提高该PUF的逻辑不确定性,进而提高了其抗建模攻击能力.同时,在FPGA上的实验也表明,所提设计具有较高的随机性(50.6%)和稳定性(94.5%).

关键词：物理不可克隆函数仲裁型PUF 弱PUF 建模攻击

基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计

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计算机工程 2004年第19期30卷 30-31,87页

作者：鲁巍杨修涛李晓维中国科学院计算技术研究所北京100080

剖析了JTAG标准的精髓,分析了其组成﹑功能与时序控制等关键技术,结合一款通用CPU的具体要求,给出了一种实现JTAG结构的具体方法,并介绍了其功能测试的方法。

关键词：边界扫描可测性设计 IEEEI 149.1 标准(JTAG)

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极小布尔不可满足子式的提取算法

计算机辅助设计与图形学学报 2004年第11期16卷 1542-1546页

作者：邵明李光辉李晓维中国科学院计算技术研究所信息网络室

研究了极小布尔不可满足子式的提取算法 ,它分为近似算法和精确算法两种文中就精确算法提出了局部预先赋值的优化方案 ,并且在理论上证明了该算法的正确性 ;通过实验显示了此算法可以获得更高的效率通过模拟实验观察到 ,利用完全算... 详细信息

研究了极小布尔不可满足子式的提取算法 ,它分为近似算法和精确算法两种文中就精确算法提出了局部预先赋值的优化方案 ,并且在理论上证明了该算法的正确性 ;通过实验显示了此算法可以获得更高的效率通过模拟实验观察到 ,利用完全算法进行近似提取的一个有趣现象 ,即随着公式密度的增加。

关键词：形式验证布尔可满足问题极小布尔不可满足子式

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热量敏感的众核芯片多播并行测试方法

计算机辅助设计与图形学学报 2010年第5期22卷 845-851页

作者：方芳韩银和李晓维合肥工业大学管理学院合肥230009 合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009 中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190

为了解决芯片测试过程中功耗密度大造成的局部过热(简称"热斑")问题,提出一种热量敏感的多播并行测试方法.对众核芯片采用多播并行测试时面临的"热斑"问题进行分析,提出一种无"热斑"的多播测试路径生成算法;在温度容限内对生成的多条单... 详细信息

为了解决芯片测试过程中功耗密度大造成的局部过热(简称"热斑")问题,提出一种热量敏感的多播并行测试方法.对众核芯片采用多播并行测试时面临的"热斑"问题进行分析,提出一种无"热斑"的多播测试路径生成算法;在温度容限内对生成的多条单类同构芯核多播测试路径进行并行优化,形成无"热斑"的快速并行测试方案,同时缩短了测试时间.实验结果表明,采用文中方法能够有效地避免多播并行测试时的"热斑",并使测试时间缩短近45%.

关键词：众核芯片并行测试多播技术热斑