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ICF激光驱动器光学元件波面误差均方根梯度研究
ICF激光驱动器光学元件波面误差均方根梯度研究
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第九届全国光学测试学术讨论会
作者： 沈卫星 徐德衍 高功率激光物理联合实验室上海光学精密机械研究所
光学元件的面形及透过波面的质量技术要求除了传统的PV、RMS、POWER外,功率谱密度(PSD)函数由于能直接反映空间频率的分布而逐渐得到广泛的重视;而对于高功率惯性约束激光驱动器,波面均方根梯度对于打靶的远场焦斑分布有直接影响,所以...
来源： cnki会议 评论
亚像元线阵CCD推扫成像系统调制传递函数分析方法
亚像元线阵CCD推扫成像系统调制传递函数分析方法
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第九届全国光学测试学术讨论会
作者： 公发全 刘海涛 张晓辉 韩昌元 长春光学精密机械与物理研究所
自70年代以来,随着CCD器件的不断成熟和发展,CCD已经在成像领域得到广泛的应用。为了得到更高图像分辨率和成像质量,就需要提高CCD器件的性能,改善和优化CCD成像系统。而亚像元成像系统是CCD成像性能改善及应用的典范方案,它的实现一般...
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测量系统中CCD图象失真的处理方法及应用
测量系统中CCD图象失真的处理方法及应用
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第九届全国光学测试学术讨论会
作者： 雷鸣 程守澄 军械工程学院光学教研室
将一般用于图像采集、显示的CCD系统应用于测量系统时遇到的主要问题就是光电转换过程中严重的图像信号失真。主要表现在:(1)用于图像显示的CCD系统采用了自动增益AGC,在其用于测量系统中时使原信号强烈失真。显示时引用的γ校正电路,...
来源： cnki会议 评论
基于数字化二次曝光干涉的材料折射率测量
基于数字化二次曝光干涉的材料折射率测量
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第九届全国光学测试学术讨论会
作者： 陈怀新 李大海 伍波 陈祯培 四川大学电子信息学院
二次曝光法是干涉计量中一种典型的波前检测方法,它可应用于透射物体样品折射率均匀性的检测。但传统的二次曝光法采用全息干板记录干涉信息,由于对全息干涉进行光学再现时,条纹包含有复杂的背景,使分析变得复杂、困难。对此,本文提出采...
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热像MTF测试技术研究
热像MTF测试技术研究
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第九届全国光学测试学术讨论会
作者： 苏昌林 王德安 中国测试技术研究院 昆明物理研究所
本文全面论述了由光学探测器、电子处理和监视器组成的热成像系统调制传递函数(MTF)的测试技术,它适用于光机扫描和凝视热成像系统。全文包括六个主要部分:1、引言:指出MTF是热像性能最基本的参数之一。2、国内外现状:说明本文研究的方...
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CCD辅助测量基模(TEM00)激光光斑尺寸的方法
CCD辅助测量基模(TEM00)激光光斑尺寸的方法
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第九届全国光学测试学术讨论会
作者： 王虎 苗兴华 於崇真 中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学室
激光光束经聚焦后可形成极小的光斑,其功率密度极高,可用于激光微型加工、精密测量、核聚变中。由于聚焦光斑小,空间分辨率高,可用来实现高密度信息存储、精密测试。根据这样的要求,需要设计相应的光学系统,并且要确定激光最小腰束("焦...
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高精度超长导轨直线性测试及调整系统的方案研讨
高精度超长导轨直线性测试及调整系统的方案研讨
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第九届全国光学测试学术讨论会
作者： 郑建平 王志坚 付跃刚 长春光学机密机械学院光电工程系
对高精度超长导轨直线性调整及测试大别于普通导轨的测度方法,超高精度直线基准应具有重复设立性,测量系统的自身维护性等综合因素必须予经考虑。本文提出一种综合性系统方案及仪器方案,实现对超长导轨直线性进行全程高精度快速测量及...
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CCD测望远系统视差
CCD测望远系统视差
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第九届全国光学测试学术讨论会
作者： 李刚 周冰 董伟 李勇 平顶山市广播电视大学大专部
介绍了一种用CCD摄像器件测量望远系统视差的新方法。它取代人眼主观判断,自动化、数字化程度比较高,可与计算机接口,实现自动控制、数字显示。1测量原理该方法采用CCD摄像器件代替人眼进行观察和判断,将图象信号通过采集卡采集到计算...
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红外材料折射率精确测试
红外材料折射率精确测试
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第九届全国光学测试学术讨论会
作者： 王雷 郑克哲 汪建刚 国防科工委光学计量一级站
折射率是光学材料基本性能参数之一,是光学设计时必须预先了解的重要内容。目前随着红外材料在国防上的广泛应用,准确确定红外材料折射率显得越来越重要。但在国内由于缺乏有效的折射率测量手段,国内生产的红外材料其折射率一直无法准...
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低温辐射计腔体反射比的测量
低温辐射计腔体反射比的测量
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第九届全国光学测试学术讨论会
作者： 吕正 姚和军 林延东 中国计量科学研究院
低温辐射计的腔体吸收比是其测量值的两个校正因子之一,所以它的准确度直接影响到测量值的不确定度大小。校正因子越小,则校正效果越好。这意味着腔体吸收比必须很高,现在的水平在0.9999以上,所以直接测量腔体吸收比是困难的,一般的方...
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