基于紧缩场的RCS测试系统研究
作者单位：电子科技大学
会议名称：《2024年全国微波毫米波会议（中国微波年会）》
会议日期：1000年
学科分类：080904[工学-电磁场与微波技术] 0810[工学-信息与通信工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 081105[工学-导航、制导与控制] 081001[工学-通信与信息系统] 081002[工学-信号与信息处理] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0811[工学-控制科学与工程]
关 键 词：紧缩场 雷达散射截面(RCS) 反射面
摘 要：随着雷达探测和隐身技术的不断发展,散射特性的测量也逐渐成为研究的热点之一。雷达散射截面(Radar Cross Section,RCS)作为表征电磁散射特性的重要物理量,发展相关测量技术的重要性不言而喻。本文根据紧缩场与RCS测试的相关技术,通过理论分析、建模仿真及实测验证,建立了应用在X波段的紧缩场测试系统,对于RCS测试有一定参考价值和实用意义。