控制器类产品测试性设计技术研究
作者单位：天津航空机电有限公司
会议名称：《第十六届中国航空测控技术年会》
会议日期：2019年
学科分类：08[工学] 0825[工学-航空宇航科学与技术]
关 键 词：测试性 BIT 功能模块 故障模式及影响分析 测试点
摘 要：针对控制器类产品提出了一种基于功能分析的BIT设计方法。通过在产品设计初期分析产品功能,确定产品的功能模块划分。对产品功能电路进行故障模式与影响分析,并根据分析结果进行测试点的选择,测试点的选择采用了改进的故障-测试矩阵,解决了复杂模块的故障模式多的问题。根据选择的测试点进行了产品的测试性设计与验证,实现产品的测试性设计指标。经实践证明该设计方法可减少测试性设计的迭代次数。