荧光寿命谱研究受限态高分子薄膜的链堆积形态

作     者：秦淋淋 沙野 陈葳 薛奇 

作者单位：南京大学化学化工学院 

会议名称：《中国化学会2017全国高分子学术论文报告会》

会议日期：2017年

学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070305[理学-高分子化学与物理] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学] 

关 键 词：荧光寿命 薄膜 单分子层 

摘      要：自从1994年开始,高分子薄膜一直是学术界研究的重点,然而对于高分子薄膜的链结构研究,却相对缺乏。这里,我们合成了在高分子链几何中心精准标记荧光基团的PMMA,制备链间标记荧光基团的PMMA薄膜,膜厚从7nm到248nm。基于荧光寿命测试,我们可以通过拟合得到荧光基团在空间中的维度分布信息。因为每根链上有且只有一个荧光基团,荧光基团的空间分布可以反映高分子链的排布状态,当荧光基团呈平面分布时,说明高分子线团的排列状态是单分子层堆积。通过对供体的衰减进行分形维度拟合,获得了荧光基团在空间中的分布维度随膜厚变化的关系,从而推断出高分子薄膜在膜厚降低过程中单分子层的形成过程,在膜厚为1.5Rg的时候,形成了高分子线团单分子层。