快堆用碳化硅温度监测器的技术分析

作     者：殷通 黄晨 

作者单位：中国原子能科学研究院快堆研究设计所 

会议名称：《中国核学会2015年学术年会》

会议日期：2016年

学科分类：082703[工学-核技术及应用] 08[工学] 0827[工学-核科学与技术] 

基　　金：国家高技术研究发展计划(863计划) 

关 键 词：温度监测器 碳化硅 电阻率 

摘      要：从20世纪60年代开始,美国就广泛使用碳化硅作为辐照后温度监测器材料,随着该技术的不断发展,逐渐使用作为反应堆辐照容器温度监测器。相较于中国实验快堆(CEFR)使用的共晶合金,碳化硅作为反应堆辐照容器温度监测材料,具有监测温度精确度高和监测范围广的优点,能在15075℃的范围内提供误差在20℃内的温度监测,其原因就在于点缺陷与悬空键的结合与分离。本文还推荐使用美国爱达荷国家实验室(INL)提供的四点探针技术进行测量,对该测量方法的仪器进行了简单介绍,通过对辐照后样品的等时退火预测辐照峰值温度,方法简便。本文通过对碳化硅作为温度监测器的性能及关键技术进行分析,包括研究背景、机理分析、试验方法和数据处理等,提出碳化硅可以作为CEFR辐照试验用的温度监测技术的发展方向。