高岭土原位晶化制备分子筛硅铝比测定
作者单位：山东淄博齐鲁石化公司研究院 山东淄博齐鲁石化公司研究院
会议名称：《第八届全国X射线衍射学术会议》
会议日期：2003年
学科分类：081702[工学-化学工艺] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术]
关 键 词：硅铝比 测定方法 分子筛 原位晶化法 高岭土 X射线衍射仪
摘 要：正1 前言硅铝比是分子筛重要的结构参数,与其性能密切相关,可作为合成分子筛产品质量的控制指标。七十年代末美国恩格哈特（ENGELHARD）公司首先开发了原位晶化制备催化裂化催化剂的技术,降低生产成本,使产品更具有市场竞争力。目前高岭土原位晶化法制备的 NaY 分子筛结晶程度较底,传统的测定分子筛硅铝比的方法由于峰强度低,峰位难以确定,甚至根本不出峰而无法使用,需要建立新的测定方法。