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(100)面金刚石薄膜沉积的工艺参数研究

(100)面金刚石薄膜沉积的工艺参数研究

作     者:尚凯文 吴敢 郭晚土 王兰喜 

作者单位:航天五院兰州510所 

会议名称:《中国真空学会2008年学术年会》

会议日期:2008年

学科分类:07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0702[理学-物理学] 

关 键 词:微波等离子体 金刚石薄膜(100)晶面 

摘      要:本文研究了不同工艺参数对金刚石薄膜(100)织构生长的影响。以 H和 CH的混合气体为气源,用微薄等离子体设备,在硅片上生长具有(100)面金刚石薄膜。分别采用了扫描电子显微镜(SEM)、Raman 光谱、X 射线衍射仪等对金刚石膜的表面形貌、质量等进行具体分析。结果表明在适当的工艺参数下可以生长出具有低缺陷、表面平整致密,高质量的(100)面金刚石薄膜。

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