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晶体薄膜光子隧道显微技术

晶体薄膜光子隧道显微技术

作     者:张为权 

作者单位:浙江工程学院 

会议名称:《第九届全国光学测试学术讨论会》

会议日期:2001年

学科分类:08[工学] 0803[工学-光学工程] 

摘      要:光子隧道显微技术具有较高的横向和纵向分辨本领,它己广泛地应用于电介质样品的测量技术中。但目前尚未有关各向异性介质的测量报导。张为权提出了各向异性介质薄膜光子隧道效应的理论。给出薄膜的光学参量,得到反射和透射系数。(Applied ***.37,79-83,1998)本文要解决它的反演问题,即由反射系数得到光学参量。

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