奈米二氧化钛之X光吸收光谱检测与分析
作者单位：大同大学材料工程学系 大同大学材料工程学系 大同大学材料工程学系 逢甲大学材料科学系 大同大学材料工程学系 中正大学物理系
会议名称：《中国颗粒学会2002年年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会》
会议日期：2002年
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学]
关 键 词：奈米二氧化钛微粒 煅烧 X光近缘结构 延伸X光吸收精细结
摘 要：利用同步辐射光源对奈米二氧化钛材料进行X光吸收光谱研究,包括X光近缘结构（可以用来检测材料中特定原子之电子组态）及延伸X光吸收精细结构（可用来测定原子之区域结构）两大部分。本文介绍了X光吸收光谱的基本原理,并研究奈米二氧化钛材料之结构性质,经由X光吸收光谱在原子短程结构及电子组态上之优点,与传统XRD长程有序分析及TEM等结果相互配合,可使我们更加了解奈米二氧化钛材料之结构特性。