探测器倾斜模式的同步辐射计算机层析成像
作者单位:中国科学院高能物理研究所
会议名称:《第十四届中国体视学与图像分析学术会议》
会议日期:2015年
学科分类:0831[工学-生物医学工程(可授工学、理学、医学学位)] 08[工学] 080203[工学-机械设计及理论] 0802[工学-机械工程]
摘 要:同步辐射计算机层析成像方法(Synchrotron radiation computed laminography,SR-CL)是近年来提出的用于对平板样品进行三维无损成像的新方法,该方法可以克服计算机断层成像方法(CT)应用于平板样品时,入射X射线在垂直样品表面和平行样品表面两个方向的光程差异太大的困难。我们在常规SR-CL方法的基础上提出了一种新的实验几何,即将二维探测器倾斜,使其探测面的法线方向与样品旋转轴的方向平行,如下图所示:利用计算机模拟,我们在不同样品密度差、不同投影数的条件下对这两种实验几何的SR-CL方法进行了比较,并开展了实际样品实验,其结果表明当样品衬度较小、投影数目较少时,探测器倾斜的探测模式在断层图像重建时收敛更快,重建质量更好。这种方法有望为低衬度平板样品(如古生物化石)的高精度无损三维成像提供有效手段。