直接从EDX谱图得到浓度值——一种通用校准概念的新算法
作者单位：德国布鲁克AXS有限公司 德国布鲁克AXS有限公司北京代表处
会议名称：《全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会》
会议日期：2005年
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学]
摘 要：在XRFS中的“无标样分析所有常规算法都是基于使用反映样品物理特性和激发条件的基本参数,考虑了基体效应之后首先计算理论强度,从而计算样品中被分析物的浓度。到现在为止,ED-XRFS中采用通用校准方法受到了限制,其主要原因时是强烈的谱线重叠影响和计数率(依赖于仪器的分辨率)。因此必须采用附加数学峰去卷积算法,以便计算净强度。这种算法的