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抗辐射加固IC电路相位噪声测试研究

抗辐射加固IC电路相位噪声测试研究

作     者：蒲璞 

作者单位：中国电子科技集团第二十四研究所 

会议名称：《第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会》

会议日期：2009年

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 

关 键 词：抗辐射加固 相位噪声 相位检波器 鉴频器 

摘      要：介绍了直接频谱仪法、相位检波器法、鉴频器法等相位噪声测试方法,并利用这些测试方法,通过合理的测试设计,开发出了抗辐射加固IC电路的测试系统,对电路进行了相位噪声测试研究。

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