谢宁FACTUALTM方法在背光灯片缺陷改善的应用研究

作     者：舒逸 

作者单位：上海交通大学 

学位级别：硕士

导师姓名：奚立峰;杜世昌;杨震

授予年度：2009年

学科分类：0810[工学-信息与通信工程] 08[工学] 081001[工学-通信与信息系统] 

主      题：谢宁FACTUALTM方法 成对(组)比较技术 图基检验 对比研究策略 B vs.C检验方法 

摘      要：PMI004是新一代改进型背光灯片产品，能够避免和减少客户在后续组装工序中不良品的产生。公司的总体策略是将此新型结构运用在所有的产品上，进一步提升产品的竞争力获得更高的市场占有率。 该产品在量产初期，产品缺陷率很高，特别是“内部短路。导致外部客户批退率和内部不良率双高的局面。本文应用了谢宁试验设计方法来解决产品缺陷，通过成对(组)比较技术，并结合图基检验的方法，针对背光灯片“内部短路缺陷难以侦测的问题，构建并验证了具有可操作性的“电阻值检验侦测手段。将客户批退率从20％降低到0％，客户制程发现不良从1.5%降低到0.1%以下，杜绝了潜在的不良产品的交付。 然后，应用谢宁的FACTUAL方法体系，从灯片“表观缺陷入手，利用对比研究策略逐一排除其他的干扰因素，使用正交试验设计锁定和验证了问题的Red-X“磷光粉层和绝缘层印刷不良;并通过B vs. C的确认试验肯定了“3项印刷参数改善方案的有效性和置信度。最终，通过改善方案的落实和监控，达到了将“内部短路缺陷率从10％降低到2.5％目标。