数字信号处理器MD16验证研究

作     者：陈东晓 

作者单位：浙江大学 

学位级别：硕士

导师姓名：姚庆栋

授予年度：2006年

学科分类：080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 

主      题：处理器体系结构 指令集 边界扫描 扫描链 验证测试 MD16 状态机 指令寄存器 验证平台 存储器芯片 

摘      要：随着集成电路设计和工艺技术、信号处理技术的发展，数字信号处理器(Digital Signal Processor DSP)取得了巨大的发展，数字信号处理技术已经在通讯，多媒体，信息家电等各个领域得到了极为广泛的应用。同时数字集成电路规模也越来越大，到目前为止，它的增长荃本上遵循Moore定律，以每18个月翻一番的速度持续地增长。随着亚微米、深亚微米技术的不断发展，设计技术的也不断提高，使得电路规模和集成度的不断增大。这样数字信号处理器的电路规模和集成度也越来越大、芯片特征线宽越来越小、验证测试越来越困难. 虽然DSP处理器的电路规模不断增大的同时，引脚数目也在不断增多，但是其引脚与芯片的规模比却在不断减少。另一方面随着芯片封装技术的提高，也使传统针床测试方法变得不现实.同时石市场对DSP处理器的开发周期要求也越来越短。没有合理的仿真验证策略和相应的测试平台，处理器功能的正确性和性能的稳定性就得不到保证。所以，对于整个DSP处理器芯片的验证测试，可测性设计方法、侧试资源如引脚如何合理安排和使用，采用何种验证测试平台等等，对于保证被测DSP处理器功能的正确性、性能的稳定性和上市进程至关重要。