RAM芯片测试系统及其专用芯片设计

作     者：李伍松 

作者单位：厦门大学 

学位级别：硕士

导师姓名：郭东辉

授予年度：2005年

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

主      题：芯片测试 检测系统 IC设计 

摘      要：本文的工作是研究开发一套检测存储器芯片性能的测试平台系统,主要设计一款用于该系统中的关键专用芯片。本测试平台系统是用于对电子系统中广泛应用的外挂式存储器进行自动检测,它可根据测试人员的要求对测试数据进行配置,选定相关检测方法进行检测,具备了高效率、高覆盖率和可配置性等特点。为了具体介绍所要设计专用芯片的功能内容和技术原理,本文首先介绍了芯片检测技术现状,接着说明存储器的电路原理、故障类型和常用的存储器检测方法,然后针对外挂式RAM芯片检测的特点,提出RAM芯片直接存取测试法的改进策略,最后,进行本专用芯片的设计。 本专用芯片的设计采用典型的自顶而下设计方法。首先对系统进行总体设计,定义了系统的各大模块,包括CPU接口模块、测试模块、RAM接口模块;接着对各个模块进行详细设计,主要包括模块详细功能框图的设计、状态机控制的设计和相关接口时序的设计,最后用Verilog HDL对系统的各个部分进行RTL级描述,并综合到FPGA上来实际兑现整个测试平台系统。其中,本专用芯片设计的特定性内容在于采用基于事务型验证的测试方法来构建了测试模块,改善了系统应用的测试速度;改进了直接存取测试法不仅能够查出RAM存储单元和周边电路的故障,还成功有效地解决了连线故障可能产生的误诊断。