并发程序变异测试研究综述

作     者：田甜 巩敦卫 TIAN Tian;GONG Dun-wei

作者机构：山东建筑大学计算机科学与技术学院山东济南250101 中国矿业大学信息与控制工程学院江苏徐州221116 

出 版 物：《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)

年 卷 期：2020年第48卷第11期

页      面：2267-2277页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 081202[工学-计算机软件与理论] 

基　　金：国家自然科学基金(No.61773384,No.61503220) 国家重点研发计划(No.2018YFB1003800-02-01)。 

主　　题：并发程序 变异测试 变异算子 优化 测试数据生成 

摘      要：变异测试是一种面向缺陷的软件测试方法,利用人为注入的缺陷引导测试数据生成,评价测试数据的有效性,在软件工程领域得到了广泛关注.依托多核架构,开发可靠的并发程序越来越迫切.近年来,很多学者尝试将变异测试技术应用于并发程序,以提高并发程序测试的效率和可靠性.首先,介绍了本文工作与已有综述的不同;然后,阐述了与并发程序和变异测试技术相关的知识;接着,从变异实施、变异测试准则、测试数据生成等3方面,综述并发程序变异测试的研究进展,包括:变异算子设计、选择变异、高阶变异、弱变异、测试数据生成方法、变异测试工具等;最后,讨论需要进一步研究的问题.