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甜玉米茎秆强度相关性状的数量性状基因座定位

QTL mapping of stem strength related traits in sweet corn

作     者:刘鹏飞 周富亮 张金钰 蒋锋 LIU Pengfei;ZHOU Fuliang;ZHANG Jinyu;JIANG Feng

作者机构:仲恺农业工程学院农业与生物学院广州市特色作物种质资源研究与利用重点实验室广东广州510225 

出 版 物:《植物保护学报》 (Journal of Plant Protection)

年 卷 期:2020年第47卷第5期

页      面:1030-1037页

核心收录:

学科分类:09[农学] 0901[农学-作物学] 

基  金:广东省重点领域研发计划(2018B020202013) 广州市特色作物种质资源研究与利用重点实验室项目(201902020077)。 

主  题:甜玉米 茎秆强度 抗倒伏 QTL定位 

摘      要:为选育抗倒伏玉米品种,挖掘甜玉米茎秆强度相关性状的数量性状基因座(quantitative trait locus,QTL),应用复合区间作图法以甜玉米组合T49×T56的F2为作图群体,通过测定F2:3家系的茎秆穿刺强度、茎秆抗压强度和茎秆弯折性能3个性状进行相关性状的QTL定位。结果表明,遗传连锁图谱包含153个SSR标记位点,覆盖玉米基因组1 199.1 c M,平均图距7.83 cM。3个性状共检测到10个QTL,其中与茎秆穿刺强度相关的2个QTL位于第3、7染色体上,解释11.81%和22.15%的表型变异,与茎秆抗压强度相关的4个QTL位于第1、3、7染色体上,单个QTL可解释3.68%~33.26%的表型变异,与茎秆弯折性能相关的4个QTL位于第3、6、8染色体上,单个QTL可解释3.55%~18.58%的表型变异。第7染色体检测到1个同时控制茎秆穿刺强度和茎秆抗压强度2个性状的QTL,位于umc1015~umc1987标记区间,分别可解释11.81%和33.26%的表型变异,第3染色体检测到1个同时控制茎秆穿刺强度、茎秆抗压强度、茎秆弯折性能3个性状的QTL,位于umc1400~dupssr23标记区间,分别可解释22.15%、13.27%和18.58%的表型变异。3个茎秆强度性状共同检测到的主效QTL,可在育种实践中用于分子标记辅助选择和抗倒伏玉米品种的选育。

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