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上界型拟合优度检验

Supremum-type Tests for Goodness-of-fit

作     者:张军舰 李国英 Zhang Junjian;Li Guoying

作者机构:广西师范大学数学科学学院广西桂林541004 北京工业大学应用数理学院北京100124 中国科学院数学与系统科学研究院北京100080 

出 版 物:《数学物理学报(A辑)》 (Acta Mathematica Scientia)

年 卷 期:2010年第30卷第2期

页      面:344-357页

核心收录:

学科分类:02[经济学] 0202[经济学-应用经济学] 020208[经济学-统计学] 07[理学] 0714[理学-统计学(可授理学、经济学学位)] 070103[理学-概率论与数理统计] 0701[理学-数学] 

基  金:广西自然科学基金(0832102) 广西师范大学博士基金 国家自然科学基金(10371126 10661003)资助 

主  题:广义非参似然比 上界型检验 拟合优度 渐近分布 

摘      要:对简单零假设情况,构造出一类上界型拟合优度检验.取不同的参数λ和不同的权函数,这类检验不仅包含许多已存在的检验,如Kolmogorov-Smirov检验,Berk-Jones检验等,而且还给出一些新的检验.众所周知,对不同的问题,最优的检验是不同的,有必要对这类检验的性质进行讨论.该文对任意给定的λ和较一般的权函数q(·),在较弱的条件下,导出了相应上界型检验统计量在零假设下的渐近分布,研究了它们的局部渐近功效;在若干固定备择假设下,对该类检验的功效进行了模拟研究.模拟结果表明,在不同的备择假设下,功效较优的检验是不同的,不存在对所有情况一致最优的检验.

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