基于二维小波变换的织物色柳疵点检测
Fabric Color Stripe Defect Detection Based on Two Dimensional Wavelet Transform作者机构：绍兴越秀外国语职业学院信息管理分院浙江绍兴312000
出 版 物：《丝绸》 (Journal of Silk)
年 卷 期：2007年第44卷第1期
页 面：40-42页
学科分类：0821[工学-纺织科学与工程] 08[工学] 080203[工学-机械设计及理论] 0802[工学-机械工程] 082101[工学-纺织工程]
摘 要：色柳是染整过程中形成的常见疵病,在纺织品的疵点自动检测识别中,疵点信息的检测最为关键。文章提出了色柳疵点的检测方法,利用图像的色彩模型提取不同的颜色值,并通过小波变换的多分辨率技术进行疵点的提取。实验表明该方法是可行的。
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