太赫兹计量研究与标准研制进展
Progress of terahertz metrology research and standard construction作者机构:中国计量科学研究院光学所北京100029
出 版 物:《应用光学》 (Journal of Applied Optics)
年 卷 期:2020年第41卷第4期
页 面:651-661页
学科分类:08[工学] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
摘 要:太赫兹作为新的技术手段在物质成分识别、高速通信、生物医学、安检成像和军事国防等领域具有重要的作用。太赫兹技术的各种应用都建立在对太赫兹本身及其与物质相互作用测量的基础上,因此准确的太赫兹参数测量及相关量值溯源是太赫兹应用的技术支撑和保障。介绍中国计量科学研究院在太赫兹辐射参数计量标准研究中形成的测量技术和溯源方法、研制的测量仪器和测量装置、制定的计量校准法规和建立的计量标准装置,对太赫兹辐射时域、频域、空域和强度等参数给出了量值溯源传递图并进行了测量不确定度分析。提出的太赫兹计量方法和标准装置可保障太赫兹技术研究和应用中的量值可靠,也可为其他太赫兹参数的测量提供参考。