新原理光电探测阵列的微光响应测试研究
Test study on weak-light level response for new quantum effect photo-detector array作者机构:华东师范大学教育部极化材料与器件实验室上海200241
出 版 物:《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)
年 卷 期:2014年第43卷第8期
页 面:2546-2551页
核心收录:
学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0808[工学-电气工程] 080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0802[工学-机械工程] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0704[理学-天文学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
基 金:国家科技部重大科研项目(2006CB932802 2011CB932903) 上海市科委配套(078014194 118014546)
主 题:微光读出 量子效应器件 高灵敏度 增益可调读出电路 暗电流
摘 要:针对暗电流低、灵敏度高等优点的新原理量子效应光电探测器,设计和加工了增益可调CTIA读出电路,以获得宽动态范围读出。读出电路芯片与1×64元量子效应光电探测器集成封装,在室温(300K)条件下进行读出测试研究。光源采用633nmHe-Ne激光器,直径50μm光斑聚焦照射。测试结果表明:器件偏压为-0.1V,激光功率150pW,积分时间78μs,响应电压55mV,电压响应率达到3.67E+08V/W。根据测试结果,提出了进一步降低暗电流影响的改进测试方案。