半导体制冷器作为标定物的红外成像仪隐式标定

作     者：章喜 王继平 孙华燕 ZHANG Xi;WANG Ji-ping;SUN Hua-yan

作者机构：解放军装备指挥技术学院光电装备系北京101416 

出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)

年 卷 期：2010年第39卷第5期

页      面：972-978页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 081203[工学-计算机应用技术] 0802[工学-机械工程] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0704[理学-天文学] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国防科技基础研究基金资助课题 

主　　题：隐式标定 红外成像仪 半导体制冷器 直接线性变换法 

摘      要：为了快速、精确地定位红外光斑的二维空间位置,提出利用半导体制冷器(TEC)作为标定点源的红外成像仪隐式标定方法。首先采用高分辨率的可见光CCD相机和已知空间坐标的高精度网格,用直接线性变换标定法求得热源的高精度空间坐标,然后利用质心型增长法分割红外图像得到其中心亮点坐标,再求解出红外图像像素坐标与空间坐标之间的转换矩阵。实验研究表明:用探测器320×240,波段8～12μm的红外成像仪拍摄200 mm×100 mm的空间视场,使用直接线性法标定带有8个TEC的靶标,标定误差小于0.4 mm。该方法简单、精度高,为红外成像仪的二维标定探索了一种低成本、高精度的途径。