闪存环境下B^+树索引重访

作     者：崔斌 吕雁飞 陈学轩 CUI Bin;Lü Yan-fei;CHEN Xue-xuan

作者机构：北京大学信息科学技术学院北京100871 

出 版 物：《计算机应用》 (journal of Computer Applications)

年 卷 期：2010年第30卷第1期

页      面：1-4页

核心收录：

学科分类：08[工学] 0835[工学-软件工程] 081202[工学-计算机软件与理论] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60873063) 

主　　题：闪存 B+树 性能测试 索引 数据库 

摘      要：闪存容量的增大使在其上构建大型系统成为可能,如何构建闪存数据库也成为数据库的热点研究领域之一。索引结构是数据库中必不可少的结构之一,而B+树是最广泛使用的索引结构。这里对存储在闪存芯片模拟器及固态硬盘上的B+树性能进行了测试及分析。首先介绍了闪存的IO特点,并测试了固态硬盘的基本IO特性。接着,对B+树的插入和查询效率进行了详细测试。测试发现节点大小、缓存大小以及数据值的分布方式都会对B+树的性能带来很大影响。例如由于闪存的读取速度不对称,闪存的更新和查询操作最优块大小相差较大。这些测试结果为更好地在闪存上使用B+树索引,并进一步设计出更适合闪存的索引提供了指导。