聚合工艺对聚噻吩固体片式铝电解电容器的影响

作     者：吴耿云 程贤甦 林俊鸿 WU Geng-yun;CHENG Xian-su;LIN Jun-hong

作者机构：福建国光新型电子元件与材料技术研究院福建福州350015 福州大学材料科学与工程学院 

出 版 物：《功能材料》 (Journal of Functional Materials)

年 卷 期：2008年第39卷第3期

页      面：414-416页

核心收录：

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 

基　　金：国家科技型中小企业技术创新基金资助项目(05C26113500892) 

主　　题：化学氧化聚合 聚(3,4-乙撑二氧噻吩) 固体片式铝电解电容器 

摘      要：采用导电高分子材料聚(3,4-乙撑二氧噻吩)(PEDT)制备固体片式铝电解电容器,主要探索了化学聚合工艺对聚噻吩固体片式铝电解电容器性能的影响。结果表明,低的聚合溶液浓度可以提高所制备电容器的容量、降低损耗和等效串联电阻(ESR),但需要增加聚合次数以获得所需厚度的PEDT膜;化学聚合过程中烘干温度为40℃并进行适当次数的清洗,其所制备的产品容量较高,损耗较小,ESR低;增加聚噻吩的化学聚合次数可以提高电容器的容量引出水平,并降低损耗和ESR。