器件参数提取和全域寻优
Device Parameter Extraction and Global Optimization
作 者:赵国南 张蠡
作者机构:杭州电子工业学院IC-CAD/CAE研究中心
出 版 物:《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)
年 卷 期:1991年第19卷第3期
页 面:84-88,96页
核心收录:
学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学]
基 金:国家科技攻关项目
主 题:器件参数 提取 全域寻优 集成电路
摘 要:本文用全域寻优算法探索了器件参数提取,因为软件方法比用硬件方法有利,所以偏重于软件。文中以CaAs MESFET器件参数提取为例,验证了全域寻优算法,同时也解决了器件参数提取中解的唯一性问题。
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