器件参数提取和全域寻优
Device Parameter Extraction and Global Optimization出 版 物：《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)
年 卷 期：1991年第19卷第3期
页 面：84-88,96页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
基 金：国家科技攻关项目
摘 要：本文用全域寻优算法探索了器件参数提取,因为软件方法比用硬件方法有利,所以偏重于软件。文中以CaAs MESFET器件参数提取为例,验证了全域寻优算法,同时也解决了器件参数提取中解的唯一性问题。
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