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高温超导薄膜微波表面电阻多频点无损测试

Nondestructive measurement of microwave surface resistance of HTS at multifrequency

作     者:曾成 罗正祥 邹雄飞 补世荣 羊恺 Zeng Cheng;Luo Zhengxiang;Zou Xiongfei;Bu Shirong;Yang Kai

作者机构:电子科技大学光电信息学院成都610054 电子科技大学空天科学与技术研究院成都610054 

出 版 物:《仪器仪表学报》 (Chinese Journal of Scientific Instrument)

年 卷 期:2009年第30卷第10期

页      面:2150-2154页

核心收录:

学科分类:080802[工学-电力系统及其自动化] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0703[理学-化学] 

主  题:高温超导薄膜 微波表面电阻测试 多频点 

摘      要:根据镜像兰宝石谐振器法原理,设计并制作了一个双模工作的兰宝石介质谐振器。该谐振器利用兰宝石柱中TE011和TE012两个工作模式,在一个温度循环内实现了对高温超导薄膜在不同频点下微波表面电阻值的无损测试。同时,介绍了配对兰宝石的选择方法,并对已知微波表面电阻待测样品进行了改进,以确保镜像兰宝石谐振器法中A、B值准确性。与其他测试方法的谐振器相比,该谐振器具有单片、无损、多频点测试的优点,且其测试步骤也极为简单。

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