能量色散X射线荧光光谱法分析金矿中的汞

作     者：范晨 赖万昌 黄进初 杨京科 辜润秋 何进 刘林峰 曾晨浩 FAN Chen;LAI Wan-chang;HUANG Jin-chu;YANG Jing-ke;GU Run-qiu;HE Jin;LIU Lin-feng;ZENG Chen-hao

作者机构：成都理工大学核技术与自动化学院成都610059 中国人民解放军陆军勤务学院军事设施工程系重庆401311 

出 版 物：《科学技术与工程》 (Science Technology and Engineering)

年 卷 期：2020年第20卷第8期

页      面：2964-2967页

学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 

基　　金：国家重点研发计划(2017YFC0602105) 国家自然科学基金(41574182) 

主　　题：EDXRF法 Hg测定 颗粒度 相关系数 

摘      要：为了快速筛查针对金矿开采中Hg污染的情况,试验了能量色散X射线荧光光谱(energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer,EDXRF)法直接测定Hg含量技术。对基于SDD探测器的便携式X-荧光(X-roy ftuorescence,XRF)分析仪,探测器分辨率为130eV@5.9keV,Rh靶X光管的管电压为40 kV、电流10μA的条件下对金矿样品进行测量。排除其他元素对Hg的谱线干扰,选取HgLα运用净峰面积法以金矿生产样品建立工作曲线,相关系数为0.9851。实验表明,EDXRF法测定Hg,精密度高,平均偏差为9.0%,相对标准偏差(relative standard deviation,RSD)(n=10)小于1.3%,具有分析灵敏度高、样品制备过程简单、无损分析等优点,可用于金矿中Hg元素的快速检测。