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长波长PIN+FET组件的可靠性研究

Study on Reliability of Long-Wavelength PIN/FET Modules

作     者：孔霞 

作者机构：四川固体电路研究所永川632167 

出 版 物：《半导体光电》 (Semiconductor Optoelectronics)

年 卷 期：1993年第14卷第1期

页      面：93-96页

学科分类：08[工学] 0803[工学-光学工程] 

主　　题：光电器件 可靠性 失效分析 

摘      要：通过对长波长 PIN+FET 组件的可靠性试验,估算了长波长 PIN+FET组件的平均寿命;对失效样品进行了分析,确定了其主要失效模式,并对优化工艺作了进一步探讨。

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