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电热化学发射中硅堆故障试验分析

Test and Analysis of Silicon Stack Failure in Electrothermal-chemical Launch

作     者:李贞晓 张亚舟 高梁 金涌 栗保明 LI Zhen-xiao;ZHANG Ya-zhou;GAO Liang;JIN Yong;LI Bao-ming

作者机构:南京理工大学瞬态物理国家重点实验室江苏南京210094 

出 版 物:《兵工学报》 (Acta Armamentarii)

年 卷 期:2015年第36卷第4期

页      面:577-581页

核心收录:

学科分类:082601[工学-武器系统与运用工程] 08[工学] 082603[工学-火炮、自动武器与弹药工程] 0826[工学-兵器科学与技术] 

基  金:国家自然科学基金项目(11272158) 

主  题:兵器科学与技术 脉冲电源 高压硅堆 电热化学发射 过电压 

摘      要:针对电热化学发射试验中脉冲电源发生的高压硅堆损坏,分析可能导致器件损坏的原因,通过机械振动冲击试验、脉冲放电仿真与试验、硅堆反向恢复特性测量等确定故障原因。研究结果表明:电热化学发射过程中的机械振动冲击不会造成硅堆损伤,故障由电感性质负载特性、串联元件的反向恢复特性不一致和脉冲电源非同步放电等因素共同造成,传输线电感分量偏大是故障发生的直接原因。研究结论对于高压硅堆在电热化学发射中的应用具有指导作用。

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