对称双缺陷光子晶体的缺陷模规律

作     者：马骥 黄正逸 沈小明 陈宪锋 MA Ji;HUANG Zheng-yi;SHEN Xiao-ming;CHEN Xian-feng

作者机构：江苏工业学院数理学院常州213164 

出 版 物：《激光技术》 (Laser Technology)

年 卷 期：2010年第34卷第3期

页      面：398-400,404页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：江苏省高校自然科学基础研究面上资助项目(07KJD140036) 江苏工业学院理工扶持基金资助项目(JS200802) 

主　　题：物理光学 光子晶体 缺陷模 传输矩阵 

摘      要：为了了解对称双缺陷光子晶体的传输特性,采用传输矩阵法进行了数值模拟研究。当两缺陷层中间的介质层数目大于缺陷两外侧介质层总数时,在禁带中只出现单一的缺陷模,且其透射率随它们的差异的增大而迅速减小;但当中间的介质层数目小于两外侧介质层总数时,在禁带中将会出现两个透射率为1的缺陷模,且两缺陷模的间距随它们的差异的增大而增大。结果表明,缺陷层的位置对缺陷模的影响较大,要使缺陷层中的局域电场得到有效提高,必须使缺陷层靠近光子晶体的正中心。