基于M32C87A单片机的智能测试系统控制方法研究
作者机构：北京自动测试技术研究所北京100088
出 版 物：《国内外机电一体化技术》 (International Mechatronics Technology)
年 卷 期：2009年第12卷第1期
页 面：65-67,72页
学科分类：08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）]
主 题：串行I/O M32C87A 单片机 智能测试系统 控制方法 半导体测试
摘 要：M32C87A与其它单片机相比,具有速度快、功耗低、处理能力强、内置丰富外围电路的优势;针对目前半导体测试存在的问题。本文旨在研究M32C87A及相关理论,研究以其为核心的测试系统以提高半导体测试的速度、效率。
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