基于投影栅相位法和独立分量分析的强反射表面形貌测量

作     者：张翼翔 张连新 Zhang Yixiang;Zhang Lianxin

作者机构：中国工程物理研究院机械制造工艺研究所四川绵阳621900 

出 版 物：《激光与光电子学进展》 (Laser & Optoelectronics Progress)

年 卷 期：2020年第57卷第5期

页      面：121-127页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国防科学技术预先研究基金 

主　　题：测量 投影栅相位法 独立分量分析 强反射表面 

摘      要：提出了一种结合独立分量分析(ICA)算法的投影栅相位法,用于实现强反射表面三维形貌的测量。分析了强反射表面的反射光(主要由镜面反射光以及漫反射光组成)的模型及其特点。针对镜面反射光的偏振特性,通过在CCD摄像机镜头前加装偏振片,可以对镜面反射光进行初步的滤除。同时旋转偏振片,以获得不同角度下的偏振图像。利用反射光模型并结合独立分量分析算法,将镜面反射光分量以及漫反射光分量进行分离。最后使用漫反射光分量图像对物体进行三维重建。实测了一块表面光滑的铝合金工件,验证了该方法的可行性。