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红外焦平面探测器贮存寿命试验研究

Research on Storage Lifetime Test of Infrared Focal Plane Array Detectors

作     者：刘若冰 陈勤 LIU Ruobing;CHEN Qin

作者机构：中国电子技术标准化研究院 

出 版 物：《红外技术》 (Infrared Technology)

年 卷 期：2019年第41卷第12期

页      面：1124-1132页

核心收录：

学科分类：08[工学] 0803[工学-光学工程] 

主　　题：红外焦平面探测器 贮存寿命 试验数据 

摘      要：本文以红外焦平面探测器为研究对象,在充分分析历年来国内红外焦平面探测器贮存寿命试验数据的基础上,研究了产品的失效模式和失效机理,并对贮存寿命试验前后关键参数指标变化量进行了深入分析,为全面评价红外焦平面探测器产品质量和可靠性提供了依据,为后续红外焦平面探测器的标准制修订工作奠定了基础。

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