使用同步检测进行精密低电平测量
作者机构：ADI公司
出 版 物：《中国集成电路》 (China Integrated Circuit)
年 卷 期：2015年第24卷第4期
页 面：75-80页
学科分类：07[理学] 08[工学] 070104[理学-应用数学] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0701[理学-数学] 0811[工学-控制科学与工程]
主 题：低电平测量 同步检测 电平信号 仪器仪表 应变测量 噪声电平 背景光 隐藏
摘 要：同步检测是一项实用的技术，可提取隐藏于噪底以下的低电平信号，在仪器仪表领域有很多应用。比如：测量非常小的电阻，测量在强背景光下光的吸收或反射，或者在高噪声电平的情况下进行应变测量。
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