基于概率模型的QCA触发器可靠性研究
The Reliability Study of QCA Flip-flop Based on Probability Model作者机构：空军工程大学理学院西安710051
出 版 物：《固体电子学研究与进展》 (Research & Progress of SSE)
年 卷 期：2012年第32卷第2期
页 面：126-130页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0702[理学-物理学]
基 金：国家自然科学基金资助项目((61172043) 陕西省自然科学基础研究计划重点基金资助项目(2011Jz015)
主 题：量子元胞自动机 时序逻辑电路 触发器 概率转移矩阵 可靠性 元胞缺陷
摘 要：通过将时序逻辑电路中的反馈回路打开,在原有电路结构的基础上增加一路输入,采用概率转移矩阵方法建立了基于QCA的RS触发器、D触发器、JK触发器的可靠性模型,深入研究了各组成元件对其可靠性影响的差异,从而为其可靠性的提高提供了依据,这对于高缺陷率的QCA电路的可靠性设计具有重要的指导意义。
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