最新吉时利SMU模块解决了低电流、高电容的棘手测试挑战
出 版 物：《电子测量与仪器学报》 (Journal of Electronic Measurement and Instrumentation)
年 卷 期：2019年第31卷第11期
页 面：154-154页
核心收录：
学科分类：08[工学] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）]
主 题：负载电容 测量单元 电流测量 LCD显示器 被测器件 测量电流 测试应用 电缆长度
摘 要：泰克科技公司日前宣布,为Keithley 4200A-SCS参数分析仪推出两款最新源测量单元(SMU)模块,即使在由于长电缆和复杂的测试设置而产生高负载电容时,其仍能执行低电流测量。许多主要测试应用都面临着这一挑战,如LCD显示器制造和卡盘上的纳米FET器件测试。在被测器件本身电容很小的情况下,许多低电流测量应用中所需要的测试设置也会增加SMU输出端的电容。当测试连接电容太大时,最终的低电流测量结果可能会变得不稳定。为解决这些挑战,新模块在提供电压和测量电流时,支持的电缆长度和连接电容都要超过传统SMU。
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