寄存器传输级测试用例生成算法
A Test Case Generation Method at Register Transfer Level作者机构：中国科学院计算技术研究所系统结构室北京100080
出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)
年 卷 期：2005年第17卷第9期
页 面：2053-2060页
核心收录：
学科分类：1305[艺术学-设计学（可授艺术学、工学学位）] 13[艺术学] 08[工学] 080203[工学-机械设计及理论] 081304[工学-建筑技术科学] 0835[工学-软件工程] 0802[工学-机械工程] 0813[工学-建筑学] 0811[工学-控制科学与工程] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 080201[工学-机械制造及其自动化]
基 金：国家"八六三"高技术研究发展计划(2002AA111100 2002AA110010)
摘 要：基于控制流图数据流图层次模型,以分支覆盖、位功能覆盖以及语句可观测覆盖为目标,给出一个高层测试用例生成算法,并最终实现一种可行的RTL级测试生成算法.实验结果表明,在较少的测试生成时间下,该法可生成相对短的测试序列,得到与其他方法相当或略差的测试效果.此外,该算法因采用了测试用例技术而具良好的灵活性.
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