基于配对t检验的侧信道泄露评估优化研究

作     者：鹿福祥 李伟键 黄娴 LU Fu-xiang;LI Wei-jian;HUANG Xian

作者机构：广东技术师范大学计算机科学学院 

出 版 物：《小型微型计算机系统》 (Journal of Chinese Computer Systems)

年 卷 期：2019年第40卷第12期

页      面：2585-2590页

学科分类：0839[工学-网络空间安全] 08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：广东省公益研究与能力建设专项项目(2016a010101030)资助 国家自然科学基金面上项目(61872096)资助 

主　　题：侧信道泄露评估 配对t检验 Welcht检验 检测效能 

摘      要：以t检验为理论基础的TVLA方法具有简单、快捷、可靠,并且不需要掌握密码算法实现细节的优点,已成为密码算法的侧信道泄露评估标准.为减少环境噪声波动的影响、提高评估效率,研究者引入了配对t检验.本文针对非特定配对t检验的侧信道泄露评估进行了研究,发现了两个问题:(1)配对功耗轨迹组间采样点相关性系数小于0时出现第I类错误;(2)可能会出现死区.针对以上问题,提出了一种非特定配对t检验的侧信道泄露评估优化方案.对AES算法的侧信道泄露评估实验表明,本文方法比传统分组t检验的评估方法减少70%功耗轨迹数量和45%的计算时间.