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电子设备热分析、热设计及热测试技术综述及最新进展

A Review of Thermal Analysis,Thermal Design and Thermal Test Technology and Their Recent Development

作     者:吕永超 杨双根 LU Yong-chao;YANG Shuang-gen

作者机构:中国电子科技集团公司第38研究所安徽合肥230031 

出 版 物:《电子机械工程》 (Electro-Mechanical Engineering)

年 卷 期:2007年第23卷第1期

页      面:5-10页

学科分类:080701[工学-工程热物理] 080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 0807[工学-动力工程及工程热物理] 

主  题:电子设备冷却 电子设备热技术 热分析 热设计 热测试 

摘      要:随着电子技术的迅猛发展,电子设备过热问题愈显突出。文中阐述了电子设备冷却设计的常用手段及其最新的进展情况。

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