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V_2O_5熔体的微量氧化还原研究

Study on Miniamount Redox in Melting V_2O_5

作     者:魏劲松 赵康 谷臣清 

作者机构:西安理工大学材料科学与工程学院西安710048 

出 版 物:《无机材料学报》 (Journal of Inorganic Materials)

年 卷 期:2001年第16卷第4期

页      面:697-702页

核心收录:

学科分类:07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0702[理学-物理学] 

基  金:陕西省教委专项基金(99JK228) 陕西省自然科学基金 

主  题:溶胶-凝胶 相变薄膜 V2O5 五氧化二钒熔体 微量氧化还原 

摘      要:将700、800、1100℃三种温度下的V2O5熔体制得V2O5溶胶,在非晶玻璃基片上将V2O5溶胶制成V2O5凝胶薄膜试样.通过对V2O5凝胶薄膜试样的电阻随温度的变化测试和电子能谱(ESCA)和X射线衍射分析发现V2O5凝胶薄膜中有四价钒的存在,本文从V2O5熔体的微量氧化还原和晶体结构的角度分析讨论了微量氧化还原影响钒离子价态变化的机理.

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