基于BDD和布尔差分的组合电路测试生成方法
CombinationalcircuittestgenerationmethodbasedonBDDandBooleandifference作者机构：合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009
出 版 物：《计算机应用研究》 (Application Research of Computers)
年 卷 期：2008年第25卷第5期
页 面：1450-1452,1523页
核心收录：
学科分类：08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）]
基 金：国家自然科学基金重大研究计划资助项目(90407008) 国家自然科学基金重点资助项目(60633060) 安徽省自然科学基金资助项目(050420103)
摘 要：引入布尔差分的思想,对被测电路函数的BDD结构进行判断生成测试向量。本方案较传统的以图进行搜索的ATPG方法有效地减少了时空开销,并将布尔差分的理论方法应用于实际。实验表明,本方案可以有效地进行测试生成。
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