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基于几种典型焊接空洞问题的探讨

Investigation for typical solder void

作     者:孙广辉 周龙杰 陈日荣 SUN Guang-hui;ZHOU Long-jie;CHEN Ri-rong

作者机构:汕头超声印制板公司广东汕头510063 

出 版 物:《印制电路信息》 (Printed Circuit Information)

年 卷 期:2013年第21卷第S1期

页      面:267-272页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

主  题:盲孔孔型 凹陷度 焊接空洞 

摘      要:文章从几种典型的BGA焊接空洞案例出发,探讨了导致BGA空洞的根本原因和基本的改善方向,解读了关于BGA空洞的危害、接受标准及检查方式,并给出了焊接空洞发生时PCB的处理建议。

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