一种自参考的可变分辨率片上抖动测量系统
A Variable Resolution On-Chip Jitter Measurement System Using Self-Referred Architecture作者机构:中国科学院电子学研究所北京100190 中国科学院大学北京100049 龙芯中科技术有限公司北京100190
出 版 物:《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)
年 卷 期:2015年第32卷第11期
页 面:33-39,45页
学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学]
主 题:自参考结构 游标延时链 数字可控延时单元 真单相时钟
摘 要:提出了一种基于游标延时链结构的可变分辨率片上时钟抖动测量系统.为消除外部参考时钟引入的误差,利用单周期延时模块实现了自参考抖动测量设计.游标延时链由数字可控延时单元构成,测量分辨率可通过选择信号进行设置.数据读出部分采用真单相时钟D触发器,实现了高速时钟测量.与传统方法相比,此方法无需参考时钟,测量频率范围大,测量分辨率高且可以灵活设置.系统采用0.13μm CMOS工艺设计,电源电压为1.5V.后仿结果表明该系统可测量时钟频率范围为100~800 MHz,最高分辨率可达5.71ps,最大测量量程可达1.4ns.