上颌磨牙腭侧双根发生率及解剖特征的锥形束CT研究
Evaluation of the prevalence of the maxillary molars with two palatal roots by cone-beam CT作者机构:第四军医大学口腔医学院牙体牙髓病科西安710032
出 版 物:《中华口腔医学杂志》 (Chinese Journal of Stomatology)
年 卷 期:2013年第48卷第6期
页 面:359-362页
核心收录:
学科分类:1003[医学-口腔医学] 1002[医学-临床医学] 100302[医学-口腔临床医学] 10[医学]
主 题:锥束计算机体层摄影术 磨牙 牙髓腔 腭根
摘 要:目的利用锥形束CT观察上颌磨牙腭侧双根的发生率及解剖结构特征,以期为临床提供参考。方法收集528例(1957颗上颌磨牙)锥形束CT的临床三维影像资料,记录患者年龄、性别、观察牙位及腭根数目,观察腭侧双根的发生率、解剖特征及腭侧双根与性别、观察牙位等因素的关系。结果上颌磨牙腭侧双根的发生率为0.72%(14/1957),上颌第二磨牙腭侧双根的发生率[1.12%(11/979)]高于第一磨牙[0.31%(3/978)]。上颌腭侧双根的根管口平均距离为(2.84±0.50)inm,近腭根与远腭根牙根长轴夹角平均值为(34.6±16.1)°,均显著大于两颊根的根管口平均距离[(2.15±0.82)mm]和牙根长轴夹角[(21.3±12.2)°](P〈0.05)。上颌磨牙腭侧双根的发生与性别、左右方位因素无显著相关性(P〉0.05)。结论上颌第二磨牙腭侧双根的发生率大于第一磨牙,两腭根的根管口平均距离及两腭根夹角均显著大于两颊根,腭侧双根预备难度大于颊侧双根,需谨防器械分离。