上颌磨牙腭侧双根发生率及解剖特征的锥形束CT研究

作     者：杨博 陆群 白庆霞 张艳 刘晓静 刘朝娟 YANG Bo;LU Qun;BAI Qing-xia;ZHANG Yan;LIU Xiao-jing;LIU Zhao-juan

作者机构：第四军医大学口腔医学院牙体牙髓病科西安710032 

出 版 物：《中华口腔医学杂志》 (Chinese Journal of Stomatology)

年 卷 期：2013年第48卷第6期

页      面：359-362页

核心收录：

学科分类：1003[医学-口腔医学] 1002[医学-临床医学] 100302[医学-口腔临床医学] 10[医学] 

主　　题：锥束计算机体层摄影术 磨牙 牙髓腔 腭根 

摘      要：目的利用锥形束CT观察上颌磨牙腭侧双根的发生率及解剖结构特征，以期为临床提供参考。方法收集528例（1957颗上颌磨牙）锥形束CT的临床三维影像资料，记录患者年龄、性别、观察牙位及腭根数目，观察腭侧双根的发生率、解剖特征及腭侧双根与性别、观察牙位等因素的关系。结果上颌磨牙腭侧双根的发生率为0．72％（14／1957），上颌第二磨牙腭侧双根的发生率[1．12％（11／979）]高于第一磨牙[0．31％（3／978）]。上颌腭侧双根的根管口平均距离为（2．84±0．50）inm，近腭根与远腭根牙根长轴夹角平均值为（34．6±16．1）°，均显著大于两颊根的根管口平均距离[（2．15±0．82）mm]和牙根长轴夹角[（21．3±12．2）°]（P〈0．05）。上颌磨牙腭侧双根的发生与性别、左右方位因素无显著相关性（P〉0．05）。结论上颌第二磨牙腭侧双根的发生率大于第一磨牙，两腭根的根管口平均距离及两腭根夹角均显著大于两颊根，腭侧双根预备难度大于颊侧双根，需谨防器械分离。