IPqML：基于QIP标准的IP质量评测辅助系统

作     者：周萌 崔志英 高明伦 ZHOU Meng;CUI Zhiying;GAO Minglun

作者机构：合肥工业大学微电子设计研究所合肥230009 香港科技大学电子及计算机工程学系中国香港 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2008年第20卷第12期

页      面：1563-1568页

核心收录：

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 081203[工学-计算机应用技术] 0835[工学-软件工程] 0811[工学-控制科学与工程] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：香港创新及科技基金(ITS/139/03) 

主　　题：知识产权模块 质量评测 XML IP质量标准 

摘      要：重用高质量的集成电路知识产权模块(IP)能够显著地提高设计效率和芯片质量,基于质量标准的IP评测能够衡量和提高IP质量.提出并实现了一种基于QIP标准的可扩展IP质量评测辅助系统——IPqML.该系统参考软件质量度量理论改进了传统评测流程,实现了层次化的质量评测体系结构.采用XML Schema技术描述质量模型,并用于生成评测流程配置信息;通过使用模板技术实现工具配置自动化和可扩展机制,IP评测结果存储在XML文档中.最后在该系统原型上完成了3个商用IP核的评测.实验结果表明,该系统能够有效地提高评测效率和结果准确性.