近阈值下He原子的双电子电离实验中出射电子研究
Correlation of emitted electrons in near threshold double ionization of helium by electron impact作者机构：中国科学院近代物理研究所 Max-Planck-Institute for Nuclear PhysicsSaupfercheckweg 1Heidelberg 69117Germany
出 版 物：《物理学报》 (Acta Physica Sinica)
年 卷 期：2007年第56卷第11期
页 面：6386-6392页
核心收录：
学科分类：07[理学] 070203[理学-原子与分子物理] 0702[理学-物理学]
基 金：国家自然科学基金(批准号:10674140 10434100)资助的课题.
主 题：近阈值He原子的双电离 反应显微成像谱仪 电子入射电离
摘 要：利用适用于低能电子入射的反应显微成像谱仪,对电子入射He原子近阈值下的双电离过程进行了研究,实验测量了反应后3个粒子的全部动量,获得了出射电子间的关联信息.主要介绍近阈值下的双电离实验装置及实验技术,集中分析反应后出射电子的动量能量关系,对描述近阈值双电离的Wannier理论进行了检验,发现在入射电子能量为106eV时,实验结果具有Wannier理论预言的性质.
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